品牌 | 科寶 | 適用領域 | 食品 |
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產地 | 國產 | 加工定制 | 是 |
精密熒光光譜儀研發廠家
精密熒光光譜儀研發廠家
產(chan)品簡介:
X熒光光譜儀(簡稱XRF)是(shi)一種(zhong)(zhong)物理的(de)元素分析方(fang)法,具有快速、無損樣品、多種(zhong)(zhong)元素同時分析、分析成本低等特殊技(ji)術優勢,在電子、電器、珠寶、玩具、服裝(zhuang)、皮(pi)革、食品、建材、冶金、地礦、塑料(liao)、石油、化工、醫(yi)藥等行業廣泛應用。
KB-XRF-W7型X熒(ying)光光譜儀,俗稱:RoHS測(ce)試(shi)儀,專(zhuan)業用于環(huan)保有害元(yuan)素的(de)快速檢測(ce)儀,如:
1、 歐盟RoHS指令限定有害元素檢測: 鉛Pb、汞(gong)Hg、鎘Cd、六價鉻Cr、多(duo)溴聯苯(ben)、多(duo)溴聯苯(ben)醚;
2、 無鹵指令,鹵素檢測:氯Cl、溴(xiu)Br;
3、 玩具、服裝、皮革等行業(ye)限(xian)定(ding)的8大重金屬檢測:鎘Cb、鉛Pb、汞Hg、鉻Cr、銻(ti)Sb、砷As、鋇Ba、硒Se;
是電工委員會推薦的檢(jian)測(ce)RoHS有害元素(su)*檢(jian)測(ce)儀器,且可以應對多種環保指(zhi)令,如:
- 應對(dui)歐盟(meng)RoHS2.0指令(ling)—2011/65/EU
- 應(ying)對無(wu)鹵指令IEC61249-2-21
- 應(ying)對REACH指(zhi)令
- 應對玩具En71指令
- 應對美(mei)國CPSIA消費品安全改進法
- 應對China-RoHS國(guo)推自愿(yuan)性認證
- 符合IEC62321標準
- 符合GB/T26125-2011
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儀器工作原(yuan)理(li)及結(jie)構:
KB-XRF-W7型X熒光(guang)(guang)光(guang)(guang)譜儀(簡稱XRF),它是(shi)由X光(guang)(guang)管發(fa)(fa)射(she)(she)的(de)(de)(de)X射(she)(she)線(xian)(xian),經過濾(lv)光(guang)(guang)片后,X射(she)(she)線(xian)(xian)的(de)(de)(de)背景射(she)(she)線(xian)(xian)被(bei)濾(lv)光(guang)(guang)片吸收而減弱,然后經準直器(qi)變(bian)成(cheng)平行光(guang)(guang)束,照射(she)(she)在樣品(pin)上,樣品(pin)受到(dao)激發(fa)(fa),隨即產(chan)生含有(you)(you)被(bei)測元素的(de)(de)(de)特征X射(she)(she)線(xian)(xian)熒光(guang)(guang)的(de)(de)(de)復合(he)光(guang)(guang)束,進入探測器(qi),探測器(qi)具有(you)(you)能(neng)量(liang)分辨能(neng)力,可以(yi)甄別樣品(pin)所(suo)發(fa)(fa)射(she)(she)的(de)(de)(de)不同能(neng)量(liang)特征的(de)(de)(de)X射(she)(she)線(xian)(xian)熒光(guang)(guang),探測器(qi)輸(shu)(shu)出(chu)(chu)的(de)(de)(de)信號經放(fang)大(da)器(qi)的(de)(de)(de)放(fang)大(da)后進入運(yun)算裝置,由于(yu)探測器(qi)輸(shu)(shu)出(chu)(chu)的(de)(de)(de)信號與入射(she)(she)的(de)(de)(de)X射(she)(she)線(xian)(xian)熒光(guang)(guang)的(de)(de)(de)能(neng)量(liang)成(cheng)正比,因此可以(yi)得到(dao)定性(xing)(xing)、定量(liang)分析(xi)的(de)(de)(de)能(neng)量(liang)譜圖,經過計(ji)算機處理,得出(chu)(chu)定性(xing)(xing)、定量(liang)的(de)(de)(de)結(jie)果。
儀器(qi)技術參數
序號 | XRF-W7 | 技術參數(shu) |
1 | 測試范圍(wei) | 從硫S-鈾U之間(jian)的元素 RoHS限定有(you)害元素檢測:Pb/Hg/Cd/Cr/Br 無鹵指(zhi)令鹵素檢測(ce):Cl/Br 8大重金屬檢測:鎘Cb、鉛Pb、汞Hg、鉻Cr、銻Sb、砷As、鋇Ba、硒(xi)Se; |
2 | 可(ke)測樣品的(de)種(zhong)類 | 固(gu)體(ti)、液體(ti)、粉(fen)末(任何材質的(de)樣品) |
3 | 檢出限(xian) | ≤2ppm |
4 | 精度(du) | 0.05% |
5 | 測試時(shi)間(jian) | 30-300S(可以任(ren)意調節) |
6 | 攝像定位系統 | 800萬真像素高(gao)清定位系統 |
7 | X射線(xian)光管使用壽(shou)命(ming) | 大于(yu)20000小時 |
8 | 探測器(qi) | 美國Amptek公司*電(dian)制冷Si-Pin 探測(ce)器 分(fen)辨率145ev±5 |
9 | 高壓電源 | 0-50kev,0-2mA ,50W |
10 | 高壓(ya)保(bao)護措施 | 過壓自保護(hu),自恢復(fu) |
11 | 準直(zhi)濾(lv)光系統 | X射線(xian)光斑大(da)小直徑:φ1mm、φ3mm、φ5mm 濾光系統:9種(zhong)復合(he)材料濾光片 |
12 | 工作(zuo)環境溫(wen)/濕(shi)度(du) | 溫度 :15-30℃ ;濕度:≤75% (不結露) |
13 | 輸入電源 | AC 220V±15%,50Hz |
14 | 儀器尺寸 | 670mm*400mm*330mm |
15 | 測試(shi)樣品(pin)腔尺(chi)寸 | 200mm*260mm*80mm |
16 | 輻射(she)防(fang)護標準 | 遠(yuan)高(gao)于國標GB18871-2002 GBZ115-2002標準 |
注(zhu):產品具體(ti)參數細節及優惠價格可詳(xiang)談(tan);另(ling)可根(gen)據客戶(hu)需求(qiu)進行定制(zhi)