光電冷熱沖擊試驗箱

光電冷熱沖擊試驗箱

產(chan)品簡介：

冷(leng)熱沖擊(ji)試(shi)驗箱是金(jin)屬、塑料、橡(xiang)膠、電子等材(cai)料行業*的測(ce)試(shi)設(she)備，用(yong)于測(ce)試(shi)材(cai)料結構(gou)或復合材(cai)料，在(zai)(zai)瞬間下經*溫(wen)及極(ji)低溫(wen)的連(lian)續環(huan)境下忍受的程(cheng)度，得(de)以(yi)在(zai)(zai)短時間內檢測(ce)試(shi)樣因(yin)熱脹冷(leng)縮所引起的化學變(bian)化或物理傷害(hai)。

冷熱沖擊試(shi)驗箱(xiang)滿足的試(shi)驗方(fang)法(fa)：

GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低溫(wen)沖擊試驗。

產(chan)品(pin)適用范圍：

冷熱沖擊試驗箱適用于(yu)電子、汽車配件、塑膠等行業，測試各(ge)種(zhong)材料對高、低(di)溫的(de)(de)反復(fu)沖擊能(neng)力。檢測產(chan)品(pin)于(yu)熱脹冷縮(suo)所(suo)產(chan)生(sheng)的(de)(de)化(hua)(hua)(hua)學變化(hua)(hua)(hua)或(huo)物理(li)傷(shang)(shang)害，確保產(chan)品(pin)的(de)(de)品(pin)質。用來測試材料結構或(huo)復(fu)合材料，在(zai)瞬(shun)間下經(jing)*溫及(ji)極低(di)溫的(de)(de)連續環境(jing)下所(suo)能(neng)忍受的(de)(de)程度，藉以在(zai)短(duan)時間內試驗其(qi)熱脹冷縮(suo)所(suo)引起的(de)(de)化(hua)(hua)(hua)學變化(hua)(hua)(hua)或(huo)物理(li)傷(shang)(shang)害。

產品(pin)標準：

國軍標(biao)GJB150.3-86；
國軍標GJB150.4-86；
國軍標(biao)GJB150.5-86；
GB2423.1-89 電(dian)(dian)工電(dian)(dian)子產品基本試驗(yan)規程試驗(yan)A:低(di)溫(wen)試驗(yan)方法
GB2423.2-89 電工電子產(chan)品基本試驗規(gui)程試驗B:高溫試驗方法

注：產品具體參(can)數(shu)細節及(ji)優惠(hui)價格(ge)可詳談；另可根據(ju)客戶需求進行定制